服务商可靠性指标

本页面展示基准测试基础设施的可靠性指标:各芯片集群与服务商的运行成功率、错误率与可用性。

图表中的模型、芯片、框架与指标名称均沿用业界通用英文名称。

芯片可靠性

汇总所选时间范围内各芯片型号的推理运行成功率,用于比较硬件可靠性。

图表筛选

选择时间范围后,下面的成功率汇总会按该范围重新计算。

各芯片型号成功率

数据来源:SemiAnalysis InferenceX™

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